Перспективы развития оборудования для испытаний изделий микроэлектроники

Дата публикации: 16.06.2021

Перспективы развития оборудования для испытаний изделий микроэлектроники

Нарыкина А.С.
Крылов М.К.
Загубин П.К.
Аннотация: В целях повышения эффективности испытаний электронной компонентной базы (ЭКБ) были разработаны современное испытательное оборудование для проведения электротермотренировки и ускоренных испытаний ЭКБ на надежность. Рассмотрены перспективы развития испытательного оборудования.
Ключевые слова: электротермотренировка, надежность, испытания изделий, микроэлектроника, проходные камеры, стенды электротермотренировки.
Полный текст статьи