Первая страница: 22

Перспективы развития оборудования для испытаний изделий микроэлектроники

Нарыкина А.С.

Крылов М.К.

Загубин П.К.

Аннотация:

В целях повышения эффективности испытаний электронной компонентной базы (ЭКБ) были разработаны современное испытательное оборудование для проведения электротермотренировки и ускоренных испытаний ЭКБ на надежность. Рассмотрены перспективы развития испытательного оборудования.

Ключевые слова:

электротермотренировка, надежность, испытания изделий, микроэлектроника, проходные камеры, стенды электротермотренировки.

Статья опубликована в сборнике «Наука и технологии — ключевой фактор развития стран и регионов».